Program konferencji
Poster Sesja posterowa
Przerwa Przerwa
Kampus Zwiedzanie kampusu
Wtorek, 9 czerwca
09:00-10:00
Rejestracja uczestników i odbiór materiałów konferencyjnych
PrzerwaŚwiętokrzyski Kampus Laboratoryjny Głównego Urzędu Miar, Kielce, Wrzosowa 46, sala konferencyjna 2.23
10:00-10:10
Otwarcie konferencji – powitanie uczestników
Sesja I - aktualny stan i kierunki rozwoju metrologii w Polsce
10:10-10:25
mgr Piotr Ziółkowski (Główny Urząd Miar)
10:25-10:40
mgr inż. Wojciech Mazurek (Polski Komitet Normalizacyjny)
10:40-10:55
mgr Katarzyna Zawada-Wewiór (Polska Unia Metrologiczna)
10:55-11:25
mgr Katarzyna Więcek (Centralne Laboratorium Pomiarowo - Badawcze Sp. z o.o.)
Certyfikowane materiały odniesienia
11:25-12:00
Przerwa
Przerwa kawowa
Poster
Sesja posterowa
Sesja II - Projekt NanoSPM
12:00-12:10
dr hab. Dariusz Banaś, prof. ucz. (Uniwersytet Jana Kochanowskiego w Kielcach)
Wprowadzenie do projektu nanoSPM
12:10-12:30
dr inż. Andrzej Sierakowski (Sieć Łukasiewicz - Instytut Mikroelektroniki i Fotoniki)
Technologie wykonywania wzorców dla nanotechnologii
12:30-12:50
mgr Karol Szary (Uniwersytet Jana Kochanowskiego w Kielcach)
Charakterystyka nanostruktur do kalibracji mikroskopów tunelowych STM
12:50-13:10
mgr Dariusz Czułek (Główny Urząd Miar)
Spójność pomiarowa w nanometrologii – możliwości pomiarowe GUM
13:10-13:40
dr Weronika Sofińska-Chmiel/mgr inż. Krzysztof Skrzypiec (Uniwersytet Marii Skłodowskiej-Curie)
Charakterystyka nanostruktur do kalibracji mikroskopów sił atomowych AFM - Od nanoskali do jakości, akredytacja metod AFM
13:40-15:00
Przerwa
Przerwa obiadowa
Kampus
Zwiedzanie Świętokrzyskiego Kampusu Laboratoryjnego GUM
Sesja III - Sesja ekspercka
15:00-15:20
dr hab. Mikołaj Lewandowski, prof. ucz. (Uniwersytet im. Adama Mickiewicza w Poznaniu)
Opracowywanie modeli strukturalnych nowych materiałów 2-wymiarowych na powierzchniach w oparciu o atomowo-rozdzielcze pomiary mikroskopii STM
15:20-15:40
dr hab. inż. Andrzej Sikora, prof. ucz. (Politechnika Wrocławska)
Od oddziaływań do informacji ilościowej - o badaniach prowadzonych w Katedrze Nanometrologii
15:40-16:00
prof. dr hab. Franciszek Krok (Uniwersytet Jagielloński)
Procesy redoks zachodzące na powierzchniach tlenków metali przejściowych badane w nanoskali
16:00-16:20
prof. dr hab. Robert Szoszkiewicz (Uniwersytet Warszawski)
Prezentacja badań, z uwzględnieniem akredytacji PCA, w laboratorium Szosz-lab na Uniwersytecie Warszawskim
16:20-16:40
prof. dr hab. Marcin Sikora (Narodowe Centrum Promieniowania Synchrotronowego SOLARIS)
NCPS SOLARIS - oferta badawcza oraz plany rozwoju w zakresie technik SPM i normalizacji
16:40-16:50
Zamknięcie konferencji
Patronat
Partnerzy
Informacje Praktyczne
Miejsce konferencji
Świętokrzyski Kampus Laboratoryjny Głównego Urzędu Miarul. Wrzosowa 46
25-211 Kielce, Polska
Sala Konferencyjna 2.23
Kontakt organizacyjny
Dariusz Banaś,
dariusz.banas@ujk.edu.pl
Ilona Stabrawa,
ilona.stabrawa@ujk.edu.pl
Uniwersytet Jana Kochanowskiego w Kielcach,
ul. Uniwersytecka 7,
25-406 Kielce,
Polska
Finansowanie
Konferencja jest finansowana ze środków budżetu państwa przyznanych przez Ministra Edukacji i Nauki w ramach programu Polska Metrologia II, nr umowy: PM-II/SP/0044/2024/02.